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Product Category FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)
                 FR-ES精簡薄膜厚度測量儀
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                 EVG770 NT分步重復(fù)納米壓印光刻機(jī)
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                 EVG850 TB自動(dòng)化臨時(shí)鍵合系統(tǒng)
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                 EVG620 NT掩模對準(zhǔn)光刻機(jī)系統(tǒng)
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                 LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置
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                 LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置
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                 LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置
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                 LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置
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                 FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng)
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                 FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動(dòng)化高速薄膜厚度測量儀
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                 WM 300光學(xué)粗糙度測試儀
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                 PLS-F1000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動(dòng)檢測機(jī)
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                 P03Q-6LS Plasma微波等離子清洗機(jī)
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                 Nanotronics nSpec Macro微流控缺陷檢測
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                 Delcom 20J3 STAGE薄膜電阻測量儀
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                 Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)
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                 Herz電鏡隔振臺(tái)
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